簡 介
CCL外觀品質監控，檢查機依檢測結果自動分為A、B級，以達到節省人力及生產增量40%，並保持品質穩定和減少客訴。
系統流程圖
檢測畫面
應用範圍
各種厚度之銅面基板、有無Logo面基板，生產線上直接安裝、in-Line生產檢測
系統功能
- 檢測項目 墊傷、顆粒墊傷、刮傷、亮凹、摺痕、污點、粒銅、氧化、亮點、油污、手紋、符號、裁剪不當等
- 檢測方式 以高解析線性CCD進行動態製程檢測
- 檢測速度 60m/min
- 檢測精度 0.05mm 以上
- 檢測參數 自動依柀厚與銅箔別調整
- 警示方式 喇叭音效或自動標籤紙粘貼警示
- 配
 合 製程管制監控系統、品質分析系統可增進產品可靠性
配合系統
Sippis查詢系統是品管實際應用上線並藉此通過品質管理檢測系統；透過AOI表面檢查查詢站系統，可快速協助企業建置一完整嚴謹的製程
控制及即時品質管理機制，節省大量的人工成本，並落實品質管理念。
提供遠端查詢、資料匯整以整合多條生產線，檢查資訊可在工廠網路間共享，提供廠區到業務部有價值的工廠資料。您不僅能檢視目前的結
果，還可以從遠端檢視過去的檢查結果。
產業別
CCL、X/X、PS、擴散板及其它光學等板材表面基礎產業
瑕疵範例
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